Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Синеркон
Синеркон
Качество под контролем
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
  • Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
  • Твердомеры
  • Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    • Пусконаладочные работы
    • Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
0
Синеркон
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
0 Сравнение
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
Посетите демонстрационный зал в Москве
Посетите демонстрационный зал в Москве
  • Портативные РФА анализаторы
    Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
    Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
    Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
    Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
    Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
    Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
    Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
    Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
    Испытательные машины
  • Твердомеры
    Твердомеры
  • Металлография
    Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
    Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    Обслуживание оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
    Синеркон
    О компании
    • О компании
    • История
    • Новости
    • Реквизиты
    Оборудование
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    • Портативные РФА анализаторы
      Портативные РФА анализаторы
    • Оптико-эмиссионные спектрометры
      Оптико-эмиссионные спектрометры
    • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    • Напольные рентгеновские спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
    • Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские дифрактометры
    • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
    • Элементный анализ CS/ONH
      Элементный анализ CS/ONH
    • Оптические микроскопы
      Оптические микроскопы
    • Электронные микроскопы
      Электронные микроскопы
    • Пробоподготовка для спектрального анализа
      Пробоподготовка для спектрального анализа
    • Испытательные машины
      Испытательные машины
    • Твердомеры
      Твердомеры
    • Металлография
      Металлография
    • Расходные материалы для пробоподготовки
      Расходные материалы для пробоподготовки
    Сервис
    • Обслуживание оборудования
      Обслуживание оборудования
    Демозал
    Наши клиенты
    • Промышленность
    Бренды
    Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      Телефоны
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      • О компании
        • О компании
        • О компании
        • История
        • Новости
        • Реквизиты
      • Оборудование
        • Оборудование
        • Портативные РФА анализаторы
        • Оптико-эмиссионные спектрометры
        • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
        • Напольные рентгеновские спектрометры
        • Рентгеновские дифрактометры
        • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
        • Рентгеновские толщиномеры покрытий
        • Элементный анализ CS/ONH
        • Оптические микроскопы
        • Электронные микроскопы
        • Пробоподготовка для спектрального анализа
        • Испытательные машины
        • Твердомеры
        • Металлография
        • Расходные материалы для пробоподготовки
      • Сервис
        • Сервис
        • Обслуживание оборудования
          • Обслуживание оборудования
          • Пусконаладочные работы
          • Обучение после внедрения оборудования
      • Демозал
      • Наши клиенты
        • Наши клиенты
        • Промышленность
      • Бренды
      • Контакты
      • 0 Сравнение
      • +7 (495) 640-19-71
        • Телефоны
        • +7 (495) 640-19-71
        • +7 (495) 640-91-83
        • +7 (495) 741-59-04
      • Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      • zakaz@synercon.ru

      • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

      Метод ИСП-ОЭС (ICP-OES)

      Главная
      —
      Статьи
      —
      ФХМА
      Применение оборудования
      Микроскопия
      Электронная микроскопия
      Анализ металлов и сплавов
      Российские ГОСТы и нормы
      Международные стандарты и нормы
      —Метод ИСП-ОЭС (ICP-OES)
      Метод ИСП-ОЭС (ICP-OES)
      ФХМА
      19 марта 2026
      Что такое ИСП-ОЭС (ICP-OES)? Детальное описание метода оптико-эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой. Узнайте принцип работы, ключевые узлы прибора (горелка, небулайзер), типы интерференций и настройки для анализа элементов.

      Что такое ИСП ОЭС

      ИСП ОЭС (ICP-OES = Inductively Coupled Plasma - Optical Emission Spectrometry) – это многоэлементный аналитический метод для определения химических элементов в растворах (а также в твердых/порошковых образцах после перевода в раствор). Метод основан на регистрации собственного (эмиссионного) излучения атомов и ионов, возбужденных в высокотемпературной индуктивно связанной плазме аргона.

      В плазме проба быстро высушивается, испаряется, атомизируется и частично ионизируется; возбужденные частицы испускают свет на характерных длинах волн. Оптическая система разделяет излучение по длинам волн, детектор измеряет интенсивность линий, а программное обеспечение пересчитывает интенсивность в концентрацию по калибровке.

       

      Рисунок 1 – Общая схема прохождения пробы и сигнала в ICP-OES (схематично)

      Принцип измерения: шаг за шагом

      1. Проба подготавливается (разбавление, стабилизация кислотой, при необходимости – минерализация/разложение).
      2. Раствор подается в распылитель (небулайзер), где с помощью потока аргона превращается в аэрозоль.
      3. Распылительная камера отсеивает крупные капли; в плазму попадает только мелкодисперсный аэрозоль.
      4. Аэрозоль через инжектор вводится в центральный канал плазмы: капли высыхают, соли плавятся и испаряются, молекулы диссоциируют на атомы, часть атомов ионизируется.
      5. В зоне возбуждения атомы/ионы испускают излучение на характерных длинах волн.
      6. Оптика разлагает свет по длинам волн; детектор регистрирует спектр/интенсивности.
      7. По калибровочным растворам строится зависимость «интенсивность - концентрация», после чего рассчитываются концентрации в пробах.

      Ключевые узлы ИСП ОЭС и их роль

      Индуктивно связанная плазма (ИСП) и ВЧ-возбуждение

      Энергия вводится в поток аргона через индукционную катушку, питаемую ВЧ-генератором (частотные диапазоны – 27 и 40 МГц). Плазма представляет собой ионизированный газ с температурой порядка 5000-10000 K, обеспечивающий эффективное возбуждение спектральных линий.

      Рисунок 2 – Принцип образования индуктивно связанной плазмы (схематично).

      Плазменная горелка и газовые потоки

      Плазма поддерживается внутри кварцевой горелки из трех концентрических трубок. Потоки аргона выполняют разные функции: плазменный (охлаждающий) газ отводит тепло от стенок горелки и стабилизирует разряд, небулайзерный (транспортный) газ переносит аэрозоль пробы через инжектор, а вспомогательный газ формирует ламинарный поток (экран) вокруг инжектора и помогает снижать риск отложений (например, солей или сажи при органических матрицах).

       

      Рисунок 3 – Горелка и разделение газовых потоков (сечение, схематично).

      Система ввода пробы: распылитель (небулайзер) и распылительная камера

      Небулайзер формирует аэрозоль с каплями разного размера. Крупные капли могут не успевать полностью высохнуть и испариться за время пребывания в плазме, поэтому распылительная камера удаляет крупнодисперсную фракцию, а в плазму поступают преимущественно мелкие капли. Физические свойства раствора (плотность, вязкость, поверхностное натяжение) влияют на транспорт аэрозоля и, соответственно, на чувствительность и воспроизводимость. 

      Наблюдение плазмы: радиальное и аксиальное (осевое)

      Излучение можно наблюдать сбоку (радиальный режим) или вдоль центрального канала (аксиальный режим). Осевое наблюдение дает более высокую чувствительность и низкие пределы обнаружения, но сильнее подвержено помехам из более холодных областей плазмы. Радиальное наблюдение позволяет выбирать оптимальную высоту наблюдения и часто помогает снизить влияние матрицы и интерференций. В системах Dual View направление наблюдения может задаваться в методе отдельно для каждой аналитической линии.

       

      Рисунок 4 – Сравнение радиального и осевого наблюдения плазмы (схематично).

      Оптика и детектор

      Спектр ИСП ОЭС богат линиями, поэтому важна высокая спектральная разрешающая способность. В современных системах применяются диспергирующие оптические схемы (например, Эшелле-оптика/двойной монохроматор), которые позволяют разделять близко расположенные линии. Детектор (линейный CCD или CID) регистрирует спектр с заданным временем экспозиции и измерения. Увеличение времени измерения повышает воспроизводимость, а при работе около предела обнаружения может заметно улучшать чувствительность.

      Спектр, фон и помехи: что важно при разработке метода

      Выбор аналитических линий и линейный диапазон

      Для каждого элемента выбирают длину волны (линию), которая (1) свободна от спектральных наложений в конкретной матрице и (2) соответствует ожидаемому диапазону концентраций. Теоретически линейность может наблюдаться до 6 порядков, но на практике из-за аппаратных факторов (например, эффект памяти/перенос) линейный диапазон чаще составляет около 4-5 порядков. При высоких концентрациях выбирают менее чувствительные линии или радиальное наблюдение, чтобы избежать выхода за линейный диапазон.

      Коррекция фона и оценка пика

      Интенсивность аналитической линии измеряется на фоне непрерывного излучения плазмы и возможного вклада матрицы. Поэтому для каждого спектра выполняется коррекция фона (выбор точек фона слева/справа от линии – статически или динамически). Сигнал линии рассчитывают по высоте/площади пика или по частичной площади (на ограниченном числе пикселей детектора). С учетом компромисса между чувствительностью и воспроизводимостью часто оптимальными оказываются 3 пикселя.

       

      Рисунок 5 – Принцип коррекции фона и окна оценки сигнала (схематично).

      Спектральные и неспектральные интерференции

      Спектральные интерференции (наложение линий) могут решаться:

      • подбором альтернативной линии элемента;
      • математической коррекцией (например, межэлементная коррекция IEC) при совпадении/сильном перекрытии линий;
      • многовариантной (мультивариантной) обработкой спектра при частичном перекрытии, когда доступны спектры компонентов.

      Неспектральные интерференции (изменение наклона калибровки) чаще связаны с:

      • транспортом аэрозоля (вязкость, плотность, поверхностное натяжение);
      • условиями возбуждения в плазме (охлаждение плазмы матрицей, легко ионизируемые элементы и др.).

      Типовые подходы к компенсации – матричное согласование стандартов (в т.ч. одинаковая кислотность), разбавление проб, внутренний стандарт (один или несколько элементов) или стандартные добавки.

      Калибровка и контроль качества

      Перед серией измерений выполняют калибровку по растворам известной концентрации, как правило многоэлементным. Минимальный набор – холостой раствор (blank) и стандарт, однако число точек зависит от требований методики и диапазона. Линейная калибровка применяется в большинстве случаев; корректность линейности должна быть проверена для выбранной линии и диапазона. Стабильность калибровки подтверждают контрольными растворами (QC), приготовленными независимо от стандартов.

      Ключевые настройки и параметры метода (что обычно задают в методе)

      Параметр На что влияет Практические ориентиры / комментарии
      Мощность ВЧ (RF Power) Условия возбуждения в плазме, чувствительность линий Подбирается под матрицу и линии; в методических примерах рассматривается диапазон порядка 800-1600 Вт.
      Расход плазменного газа (Ar) Охлаждение горелки, стабильность плазмы Зависит от мощности; ориентир: ~10-20 л/мин.
      Расход небулайзерного газа (Ar) Транспорт аэрозоля, время пребывания в плазме, чувствительность Типично ~0,5-2 л/мин. Слишком низкий/высокий расход может снижать чувствительность.
      Вспомогательный газ (Ar) Защита инжектора, предотвращение отложений Типично ~0,5-2 л/мин; увеличение потока помогает при солевых/органических матрицах и отложениях.
      Тип небулайзера и спрей-камеры Устойчивость к солям/частицам, стабильность подачи, чувствительность Выбор зависит от матрицы; важно контролировать засоры и повторяемость подачи.
      Режим наблюдения (осевой/радиальный) и высота (для радиального) Чувствительность и уровень интерференций Осевой – максимум чувствительности и низкие LOD; радиальный – выбор зоны плазмы и меньше вклад холодных областей.
      Время измерения (интеграции) Шум/воспроизводимость и пределы обнаружения Увеличение времени измерения усредняет флуктуации; увеличение в 4 раза снижает LOD примерно на 50%.
      Выбор линии (длина волны) и спектрального окна Избирательность и линейный диапазон Проверяют отсутствие наложений в матрице и соответствие диапазону концентраций.
      Оценка пика (число пикселей, площадь/высота) Компромисс чувствительность/устойчивость к шуму и дрейфу Практический ориентир: около 3 пикселей и расчет по частичной площади/площади пика.
      Коррекция фона (статическая/динамическая) Точность при меняющемся фоне и матрице Фон оценивают рядом с линией; динамика помогает при изменяющемся спектре/матрице.
      Коррекции интерференций (IEC/мультивариантная) Точность при наложении линий Применяют, если нельзя подобрать альтернативную линию.
      Компенсация матричных эффектов (внутренний стандарт, матричное согласование, разбавление, добавки) Правильность результатов при сложных матрицах Внутренний стандарт должен отсутствовать в пробах и не давать интерференций; разбавление часто самый простой путь.

      Преимущества ИСП ОЭС

      • Одновременное определение многих элементов (многоэлементность).
      • Широкий линейный диапазон (на практике часто порядка 4-5 порядков концентраций).
      • Высокая производительность в рутинном контроле и возможность автоматизации (автосамплер).
      • Гибкость по типам матриц (при корректной настройке и пробоподготовке).

      Типовые ограничения и практические замечания

      • Сложные матрицы могут вызывать спектральные и матричные эффекты; требуется грамотный выбор линий и способов коррекции.
      • Риск загрязнений особенно критичен при следовых концентрациях: важны чистота воды, реактивов и посуды.
      • Высокие солевые/органические нагрузки могут приводить к отложениям на инжекторе и износу кварцевых деталей.
      • Точность зависит не только от прибора, но и от процедуры пробоподготовки и контроля качества. 

      Источник и примечание

      Текст подготовлен по материалам: Analytik Jena AG, «Fundamentals: Instrumentation and methods of Optical Emission Spectrometry using Inductively Coupled Plasma (ICP-OES)». Числовые значения приведены как типовые ориентиры из учебного материала и могут отличаться для конкретной конфигурации прибора и матрицы.
      Оборудование
      Спектральный диапазон
      160-900 нм
      Обзор плазмы
      радиальный и аксиальный
      Спектральное разрешение
      <0,0065 нм
      Детектор
      CCD
      Динамический диапазон
      4-5 порядков
      В демозале
      Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550
      Спектральный диапазон
      160-900 нм
      Обзор плазмы
      радиальный и аксиальный
      Спектральное разрешение
      <0,006 нм
      Детектор
      продвинутый CID
      Динамический диапазон
      6 порядков
      В демозале
      Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550 Pro
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550 Pro
      ИСП-ОЭС ФХМА
      Назад к списку
      • Применение оборудования 11
      • ФХМА 5
      • Микроскопия 3
      • Электронная микроскопия 4
      • Анализ металлов и сплавов 18
      ИСП-ОЭС ФХМА
      Компания
      О компании
      История
      Новости
      Реквизиты
      Каталог
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Оптические микроскопы
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      Услуги
      Обслуживание оборудования
      Статьи
      Бренды
      Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      zakaz@synercon.ru

      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      © 2026 Синеркон: Качество под контролем.
      Политика конфиденциальности